Analyses de l’extrême surface, applications

Evelyne Darque-Ceretti
evelyne.darque-ceretti at mines-paristech.fr
MINES ParisTech, CEMEF - Centre de Mise en Forme des Matériaux, CNRS UMR 7635, BP 207 1 rue Claude Daunesse 06904 Sophia Antipolis cedex
Deux méthodes d’analyse d’extrême surface utilisées au CEMEF seront présentées : la spectrométrie de photoélectrons (XPS) et la spectrométrie d’ions secondaires en temps de vol (ToF-SIMS). Des exemples d’applications seront donnés, pour démontrer l’importance de la connaissance des surfaces de matériaux dans différents domaines de la physique. Nous nous appuierons sur des travaux menés au laboratoire sur des métaux, polymères, semi-conducteurs, céramiques, dans les domaines de l’oxydation, de la réactivité, de la mise en forme.